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簡要描述：晶圓 2D/3D AOI 檢驗(yàn)顯微鏡進(jìn)料的wafer，經(jīng)過正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查，進(jìn)行檢查和分選。操作員不接觸wafer，避免了污染和損傷wafer。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-11-07訪 問 量：1803相關(guān)文章
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 | 進(jìn)料的wafer，經(jīng)過正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查，進(jìn)行檢查和分選。操作員不接觸wafer，避免了污染和損傷wafer。 |
晶圓 2D/3D AOI 檢驗(yàn)顯微鏡性能描述：
標(biāo)準(zhǔn)配備1個Load port，單臂翻轉(zhuǎn)Robot，Pre-aligner，目檢臺和顯微鏡。
兼容8寸和12寸wafer。
標(biāo)準(zhǔn)load port可以對應(yīng)FOUP，AutoFOSB自動開蓋，具備mapping功能。
高精度運(yùn)動機(jī)構(gòu)，低噪音，低塵，無需供油。
觸摸屏操作,界面友好。
晶圓 2D/3D AOI 檢驗(yàn)顯微鏡對應(yīng)GEM300，采用SEMI標(biāo)準(zhǔn)軟件。
公司為您提供全自動晶圓2D/3D AOI光學(xué)檢驗(yàn)機(jī)的參數(shù)、價格、型號、原理等信息，全自動晶圓2D/3D AOI光學(xué)檢驗(yàn)機(jī)產(chǎn)地為日本、品牌為--，型號為GBIT-WA-100，價格為面議，更多相關(guān)信息可咨詢，公司客服電話7*24小時為您服務(wù)。
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