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簡要描述：現(xiàn)代射頻集成電路的設(shè)計調(diào)試和測試是另一項復(fù)雜的任務(wù)。 除了射頻輸入和輸出信號外，設(shè)備還需要無振蕩偏置以及數(shù)字控制信號（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需要通過為每個產(chǎn)品單獨配置的盡可能小的接觸墊傳送到集成電路。基于多年射頻探測技術(shù)實操經(jīng)驗和深耕，為滿足國產(chǎn)測試需求而研制，可N個觸點射頻探測技術(shù)，快速測試您的RF IC。
產(chǎn)品型號：GCP110廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-12-27訪 問 量：199相關(guān)文章
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優(yōu)勢特點：
| 自有的激光+水刀切割探針頭部技術(shù) | 優(yōu)良的HFSS仿真技術(shù) | 10年以上的阻抗匹配經(jīng)驗 |
| 優(yōu)良的DC至110 GHz同軸提參技術(shù) | 業(yè)內(nèi)頂配的測量儀表+建模人員團隊 | 滿足工作溫度-55℃ ~ +125℃ |
可快速交付50、100、150、200和 250µm的傾斜探頭 | 可選擇鈹銅或鎳合金材料（推薦鎳合金） | 擁有超過100萬次的老化實驗 |
| 可兼容多家校準(zhǔn)片或使用GCC校準(zhǔn)片 |
GCP 50 射頻微波探針：
連接器接頭： 1.0mm母頭 針尖配置： GSG 針尖中心距：50~250um 針尖寬度： 28um 滑行距離： ≤30um | 探針頭示意圖
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產(chǎn)品有多個型號和不同中心間距可以選擇，詳細選型請聯(lián)系我們。
我們的射頻探測技術(shù)，用于表征射頻集成電路。 間距從 50 μm 到 250μm，可滿足您的多種測試需求。 使用在線設(shè)計捕獲表單，根據(jù)您的集成電路焊盤布局選擇射頻信號 (S)、邏輯 (L) 和電源 (P) 通道，構(gòu)建您的探針。
注：商用探針尖射頻校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)采用共面設(shè)計，包括不同類型的校準(zhǔn)元件：開路、短路、負載和線路。 因此，可以進行各種類型的探頭尖部校準(zhǔn)
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